[发明专利]一种芯片测试模式进入方法、进入系统及芯片

摘要

本申请公开了一种芯片测试模式进入方法、进入系统及芯片，其中，所述芯片测试模式进入方法首先获取数据端口的输入电压，然后判断所述输入电压是否满足第一测试条件，这是因为在芯片正常工作时，输入电压满足第一测试条件是芯片进入测试模式的一个必要条件，在此必要条件满足后，判断在所述时钟端口接收到前预设数量的时钟信号的过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码是否一致，只有在前预设数量的时钟信号的接收过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码一致才使所述芯片进入测试模式，这样通过两个测试条件的设置，可以在极大程度上降低芯片正常使用过程中出现误进入测试模式的可能。

主权项

1.一种芯片测试模式进入方法，其特征在于，应用于芯片，所述芯片具有数据端口和时钟端口，所述芯片测试模式进入方法包括：获取所述数据端口的输入电压；判断所述输入电压是否满足第一测试条件，如果是，则判断所述数据端口接收的数据信号是否满足第二测试条件，若是，则进入测试模式，若否，则返回获取所述数据端口的输入电压的步骤；所述第一测试条件包括：所述输入电压处于预设电压范围，且持续时间超过预设阈值；所述第二测试条件包括：在所述时钟端口接收到前预设数量的时钟信号的过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码一致，其中，所述预设数量的取值范围为3个‑10个，包括端点值。