[发明专利]一种试件内部缺陷的检测装置在审
申请号: | 201711384488.2 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108088566A | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
发明(设计)人: | 董丽虹;郭伟;王海斗;邢志国;徐滨士;马润波;向明;靖建农;徐雅薇 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军陆军装甲兵学院 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01N21/88;G01N21/59 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;吴欢燕 |
地址: | 100191 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及缺陷检测技术领域,尤其涉及一种试件内部缺陷的检测装置,包括底座、罩壳、发热源和第一热像仪,罩壳的下端敞开,且罩壳罩设于底座上,待检测的试件放置于罩壳内,罩壳的侧壁上设有第一安装孔,第一热像仪安装于第一安装孔内,热像仪的镜头对准罩壳的内部,发热源设于罩壳的内部,且发热源与第一热像仪相对设置。在使用时,发热源在一侧对罩壳内的待检测的试件进行闪光照射,第一热像仪在另一侧获取透射热图,由于有缺陷的地方,热量的透射会受到影响,因此通过热像仪上的透射热图即可对缺陷的位置和尺寸进行清楚的判断,即使是缺陷埋藏的深度较深,依然能够获取较为清晰的透射热图。 | ||
搜索关键词: | 罩壳 热像仪 发热源 透射 试件 检测装置 内部缺陷 安装孔 底座 缺陷检测技术 镜头对准 相对设置 罩壳罩 检测 侧壁 下端 埋藏 照射 闪光 敞开 清晰 | ||
【主权项】:
1.一种试件内部缺陷的检测装置,其特征在于:包括底座、罩壳、发热源和第一热像仪,所述罩壳的下端敞开,且所述罩壳罩设于所述底座上,待检测的试件放置于所述罩壳内;所述罩壳的侧壁上设有第一安装孔,所述第一热像仪安装于所述第一安装孔内,且所述第一热像仪的镜头对准待检测的试件;所述发热源设于所述罩壳的内部,且所述发热源与所述第一热像仪相对设置,所述发热源用于对待检测的试件的表面进行均匀加热。
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