[发明专利]闪存芯片的性能测试方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201711384655.3 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108133732B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 刘凯 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种闪存芯片的性能测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：基于预设的选取规则选取闪存芯片的性能测试样本，根据性能测试样本对闪存芯片进行编程/擦除测试；当检测到编程/擦除测试完成时，根据性能测试样本对闪存芯片进行读干扰测试；当检测到读干扰测试完成时，根据性能测试样本对闪存芯片进行数据保留测试。本发明实施例的技术方案，解决了现有技术中没有统一的闪存性能测试流程的问题，实现了便捷地实现闪存性能的测试的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 芯片 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
一种闪存芯片的性能测试方法，其特征在于，包括：基于预设的选取规则选取闪存芯片的性能测试样本，根据所述性能测试样本对所述闪存芯片进行编程/擦除测试；当检测到所述编程/擦除测试完成时，根据所述性能测试样本对所述闪存芯片进行读干扰测试；当检测到所述读干扰测试完成时，根据所述性能测试样本对所述闪存芯片进行数据保留测试。
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