[发明专利]基于浓硼掺杂硅的可动微纳结构的制备方法在审

专利信息
申请号: 201711414427.6 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN108117041A 公开(公告)日: 2018-06-05
发明(设计)人: 张明亮;季安;王晓东;杨富华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤宝平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于浓硼掺杂硅的可动微纳结构的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在单晶硅衬底的上、下两面做掺杂,形成高浓度硼掺杂层、氧化硅层和硼硅相层;步骤2:用氢氟酸清洗,碱溶液清洗,RCA清洗;步骤3:采用低压化学气相沉积的方法双面生长富氮氮化硅层;步骤4:在富氮氮化硅层的一面光刻、刻蚀,制作出微纳结构凹槽;步骤5:在碱性溶液中溶解掉单晶硅衬底的部分本体硅,形成可动微纳结构;步骤6:在氢氟酸中除去富氮氮化硅层,RCA清洗,获得浓硼掺杂硅的可动微纳结构。本发明的制备方法,可以准确、低成本制作出所设计的单晶硅微纳可动结构,有望在MEMS传感器制备加工中得到广泛应用。
搜索关键词: 微纳结构 可动 制备 单晶硅 氮化硅层 掺杂硅 富氮 浓硼 衬底 低压化学气相沉积 氢氟酸清洗 碱性溶液 可动结构 硼掺杂层 双面生长 氧化硅层 低成本 碱溶液 氢氟酸 光刻 刻蚀 硼硅 相层 掺杂 清洗 溶解 加工 应用
【主权项】:
一种基于浓硼掺杂硅的可动微纳结构的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在单晶硅衬底的上、下两面做掺杂,形成高浓度硼掺杂层、氧化硅层和硼硅相层;步骤2:用氢氟酸清洗,碱溶液清洗,RCA清洗;步骤3:采用低压化学气相沉积的方法双面生长富氮氮化硅层;步骤4:在富氮氮化硅层的一面光刻、刻蚀,制作出微纳结构凹槽;步骤5:在碱性溶液中溶解掉单晶硅衬底的部分本体硅,形成可动微纳结构;步骤6:在氢氟酸中除去富氮氮化硅层,RCA清洗,获得浓硼掺杂硅的可动微纳结构。
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