[发明专利]一种半导体芯片贴片装置有效
申请号: | 201711419623.2 | 申请日: | 2017-12-25 |
公开(公告)号: | CN108155125B | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
发明(设计)人: | 叶乐志;水立鹤;王军帅;刘子阳;周启舟 | 申请(专利权)人: | 北京中电科电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/56 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;胡影 |
地址: | 100176 北京市经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体芯片贴片装置,包括:基料相机反射镜设在键合运动机构上,基料相机反射镜相对于水平方向朝向基料载台倾斜延伸以获取并反射基料的画面;基料相机设在基料载台上方且与键合运动机构间隔开,基料相机与基料相机反射镜配合以通过基料相机反射镜反射的画面获取基料所在位置。根据本发明实施例的半导体芯片贴片装置,通过将基料相机设在基料载台上方且与键合运动机构间隔开来,基料相机反射镜固定在键合运动机构上且与基料相机相对应,键合运动机构下方对应地设置第一芯片相机反射镜、第二芯片相机反射镜、第三芯片相机反射镜和芯片相机,不仅可以减轻键合运动机构的承重,而且可以降低键合高度,提高装片精度和效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 芯片 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体芯片贴片装置,其特征在于,包括:传输机构,所述传输机构用于传输芯片;基料载台,所述基料载台用于承接基料;键合运动机构,所述键合运动机构设在所述基料载台上方,所述键合运动机构与所述传输机构配合以将所述传输机构传输的所述芯片键合在所述基料载台上的所述基料上;基料相机反射镜,所述基料相机反射镜设在所述键合运动机构上,所述基料相机反射镜相对于水平方向朝向所述基料载台倾斜延伸以获取并反射所述基料的画面;基料相机,所述基料相机设在所述基料载台上方且与所述键合运动机构间隔开,所述基料相机与所述基料相机反射镜配合以通过所述基料相机反射镜反射的画面获取所述基料所在位置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造