[发明专利]比特标记方法、存储器控制电路单元以及存储器存储装置有效
申请号: | 201711420181.3 | 申请日: | 2017-12-25 |
公开(公告)号: | CN109960603B | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 林纬;林玉祥;许祐诚 | 申请(专利权)人: | 群联电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 吴志红;臧建明 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提出一种比特标记方法、存储器控制电路单元以及存储器存储装置。所述方法包括:根据第一读取电压读取第一存储单元以产生第一码字并判断第一码字是否为有效码字,其中第一码字包括X个比特且X为正整数;若第一码字非为有效码字时,根据第二读取电压读取所述第一存储单元以产生第二码字并判断第二码字是否为有效码字,其中第二码字包括X个比特;以及若第二码字非为有效码字且第一码字的X个比特中的第Y个比特不同于第二码字的X个比特中的第Y个比特时,记录所述X个比特中的第Y个比特为不可靠比特,其中Y为小于或等于X的正整数。 | ||
搜索关键词: | 比特 标记 方法 存储器 控制电路 单元 以及 存储 装置 | ||
【主权项】:
1.一种比特标记方法,用于可复写式非易失性存储器模块,其中所述可复写式非易失性存储器模块包括多个存储单元,所述比特标记方法包括:根据多个读取电压中的第一读取电压读取所述多个存储单元中的多个第一存储单元并执行第一解码操作以产生第一码字以及第一校验信息,并且根据所述第一校验信息判断所述第一码字是否为有效码字,其中所述第一码字包括X个比特且X为正整数;若所述第一码字非为所述有效码字时,根据所述多个读取电压中的第二读取电压读取所述多个第一存储单元并执行所述第一解码操作以产生第二码字以及第二校验信息,并且根据所述第二校验信息判断所述第二码字是否为所述有效码字,其中所述第二码字包括X个比特;以及若所述第二码字非为所述有效码字且所述第一码字的X个比特中的第Y个比特不同于所述第二码字的X个比特中的第Y个比特时,记录所述X个比特中的第Y个比特为第一不可靠比特,其中Y为小于或等于X的正整数。
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