[发明专利]一种基板半板检测装置在审
申请号: | 201711428499.6 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN107966458A | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
发明(设计)人: | 朱志飞;郭连俊;杨慎东 | 申请(专利权)人: | 苏州精濑光电有限公司 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958;G01N21/01 |
代理公司: | 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙)32299 | 代理人: | 马刚强,陈瑞泷 |
地址: | 215100 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种基板半板检测装置,包括底座、承载台、检测组件、探针组件及暂存工位;所述底座上设有轨道,所述承载台滑动设置于轨道上,且包含第一载台A及第二载台B;所述检测组件设置于轨道上方,包括龙门头和检测头,所述龙门头设置于底座上,所述检测头滑动设置于龙门头上;所述探针组件设置于轨道上方;所述暂存工位设置于所述轨的第二端。本发明提供的玻璃基板半板检测装置,能够实现玻璃基板半板的全自动检测,大大提高了玻璃基板灰度及缺陷检测的效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基板半板 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种基板半板检测装置,其特征在于,包括:底座(1)、承载台(2)、检测组件(3)、探针组件(4)及暂存工位(7);所述底座(1)上设有轨道(11),所述承载台(2)滑动设置于轨道(11)上,且包含第一载台A及第二载台B,所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板;所述轨道(11)具有相对的第一端和第二端;所述检测组件(3)设置于轨道(11)上方,包括龙门头(31)和检测头(32),所述龙门头(31)设置于底座(1)上,所述检测头(32)滑动设置于龙门头(31)上,用于对半板进行光学检测;所述探针组件(4)设置于轨道(11)上方,用于对半板进行电性检测;所述暂存工位(7)设置于所述轨道(11)的第二端;其中,所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动,完成两张半板的检测;且所述第一载台A上的半板进行检测时,所述第二载台B位于所述暂存工位(7)。
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