[发明专利]评价装置及评价方法有效
申请号: | 201711445768.X | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN108254667B | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 冈田章;山下钦也;上野和起;野口贵也 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的目的在于提供一种能够抑制局部放电的发生的技术。评价装置具备:探针,其配置于上部件的下表面;侧壁部,其配置于上部件的下表面,将探针的侧方包围;以及第1气体供给部。第1气体供给部在侧壁部与工作台接近的情况下,能够朝向在工作台载置的被测定物供给气体,在侧壁部与工作台接触的情况下,能够对由工作台、侧壁部及上部件包围的空间供给气体。 | ||
搜索关键词: | 评价 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种评价装置,其对被测定物的电气特性进行评价,该评价装置具备:工作台,其载置所述被测定物;以及上部件,其配置于所述工作台上方,所述工作台和所述上部件能够彼此接近及远离,该评价装置还具备:探针,其配置于所述上部件的下表面;侧壁部,其配置于所述上部件的所述下表面,将所述探针的侧方包围;第1气体供给部,其在所述侧壁部与所述工作台接近的情况下,能够朝向在所述工作台载置的所述被测定物供给气体,在所述侧壁部与所述工作台接触的情况下,能够对由所述工作台、所述侧壁部及所述上部件包围的空间供给气体;以及评价部,其在通过所述第1气体供给部的气体的供给而使所述空间的压力上升的状态下,对与所述探针连接的所述被测定物的电气特性进行评价。
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