[发明专利]一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备有效
| 申请号： | 201711447277.9 | 申请日： | 2017-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN108172153B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 陈文源;倪传周;沐林;严吉新;殷建东 | 申请（专利权）人： | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张雪梅 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种液晶模组老化测试装置和包括其的设备，该装置包括：随机存储器、Flash闪存、微处理器、FPGA、输出接口和信号监控单元，其中Flash闪存存储从上位机接收的液晶模组的显示画面数据；所述微处理器从述随机存储器调用来自上位机的测试参数和显示画面参数传输到所述FPGA；所述FPGA根据所述测试参数生成测试信号并根据所述显示画面参数从所述Flash闪存读取所述显示画面数据，并将所述测试信号和显示画面数据传输到所述输出接口；所述输出接口将所述测试信号和显示画面数据传输到所述液晶模组；所述信号监控单元用于监控所述输出接口输出的测试信号，如果发现异常，则关闭对所述装置的供电并发送报警信号给所述上位机。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶 模组 老化 测试 装置 包括 设备 | ||
【主权项】：
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