[发明专利]一种芯片测试系统

摘要

本发明提供一种芯片测试系统，包括散热机箱和设置在散热机箱内的芯片测试设备、第一和第二芯片接口板，设备包括主控板、测量单元板和电源板，机箱的顶部设置进风口，机箱的底部设置至少一个出风口和至少一个风扇，第一芯片接口板、第二芯片接口板和主控板设置在测量单元板的上方，电源板设置在测量单元板的下方，第一和第二芯片接口板设置在主控板的两侧，与主控板之间具有空隙，与散热机箱的侧壁之间无空隙，第一和第二芯片接口板上的芯片插槽设置在机箱外，测量单元板的两侧与机箱的侧壁之间具有空隙，电源板与散热机箱的侧壁之间无空隙，包括至少一个通孔。本发明中机箱空气流通性能好，且能对设备的环境温度进行控制和对设备进行高温保护。

主权项

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括散热机箱和设置在所述散热机箱内的芯片测试设备、第一芯片接口板和第二芯片接口板，所述芯片测试设备包括主控板、测量单元板和电源板，所述散热机箱的顶部设置进风口，所述散热机箱的底部设置至少一个出风口和与所述至少一个出风口一一对应的至少一个风扇，所述第一芯片接口板、所述第二芯片接口板和所述主控板设置在所述测量单元板的上方，所述电源板设置在所述测量单元板的下方，所述第一芯片接口板和所述第二芯片接口板分别设置在所述主控板的两侧，且所述第一芯片接口板和所述第二芯片接口板与散热机箱的侧壁之间无空隙，所述第一芯片接口板和所述第二芯片接口板与所述主控板之间具有空隙，所述第一芯片接口板上的芯片插槽和所述第二芯片接口板上的芯片插槽设置在所述散热机箱外，所述测量单元板的两侧与所述散热机箱的侧壁之间具有空隙，所述电源板与所述散热机箱的侧壁之间无空隙，所述电源板上包括与所述至少一个风扇一一对应的至少一个通孔。