[发明专利]太赫兹检测方法在审
| 申请号： | 201711458641.1 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN108226089A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 彭世昌;李辰;丁庆 | 申请（专利权）人： | 雄安华讯方舟科技有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 刘雯 |
| 地址： | 071700 河北省保定市*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种太赫兹检测方法，用于物质识别，包括：以太赫兹波重复至少两次测试待测样品，获得相应吸收谱。将吸收谱平滑处理，标定吸收谱的峰值位置。根据标定吸收谱的峰值位置，确定待测样品的太赫兹本征吸收峰位置。将确定的太赫兹本征吸收峰与数据库内预存的数据比较，则判定待测样品真假。上述方法操作简单，准确获得太赫兹本征吸收峰，且对待测样品无任何损害。 | ||
| 搜索关键词： | 吸收谱 本征吸收 待测样品 峰值位置 标定 平滑处理 数据比较 物质识别 峰位置 检测 预存 判定 数据库 测试 重复 损害 | ||
【主权项】：
1.一种太赫兹检测方法，用于物质识别，其特征在于，包括：以太赫兹波重复至少两次测试待测样品，获得相应吸收谱；对吸收谱进行平滑处理，标定吸收谱的峰值位置；根据标定吸收谱的峰值位置，确定待测样品的太赫兹本征吸收峰位置；将确定的太赫兹本征吸收峰位置与数据库内预存的数据比较，以判定待测样品真假。
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