[发明专利]一种液晶显示屏大基板的快速检测方法在审
| 申请号： | 201711475006.4 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108132550A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 王学雷;方金波;仝建军;李伟界;黄伟东;李建华 | 申请（专利权）人： | 信利（惠州）智能显示有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 邓聪权 |
| 地址： | 516029 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及液晶显示领域，公开了一种液晶显示屏大基板的快速检测方法，包括：将Cell成盒的显示屏大基板在IC控位处进行切割，漏出各显示屏的电测IC控位；将切割后露出IC控位的大基板放置在带有下偏光片的背光灯箱或板上，并点亮背光源，所述大基板另一侧配合有上偏光片；开启检测程序并将各电测探头分别接入所述IC控位，对所述大基板上Cell成盒的显示屏进行快速检测，判断是否合格。采用该技术方案能够实现对大基板的快速有效检测，节省了检测的人力和物力。 | ||
| 搜索关键词： | 大基板 快速检测 显示屏 液晶显示屏 切割 液晶显示领域 背光 电测探头 开启检测 上偏光片 下偏光片 有效检测 背光源 灯箱 点亮 电测 漏出 检测 配合 | ||
【主权项】：
一种液晶显示屏大基板的快速检测方法，其特征在于，包括：将Cell成盒的显示屏大基板在IC控位处进行切割，漏出各显示屏的电测IC控位；将切割后露出IC控位的大基板放置在带有下偏光片的背光灯箱或板上，并点亮背光源，所述大基板另一侧配合有上偏光片；开启检测程序并将各电测探头分别接入所述IC控位，对所述大基板上Cell成盒的显示屏进行快速检测，判断是否合格。
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