[发明专利]电池片品质确定方法及装置有效
| 申请号： | 201711481405.1 | 申请日： | 2017-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108198767B | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 吴坚;蒋方丹;邢国强;王栩生 | 申请（专利权）人： | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 215129 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电池片品质确定方法及装置，该方法通过根据电池片的转换效率，获得该电池片的效率品质级别，在根据电池片的品质参数，计算该电池片的填充因子损失比，最终由该电池片的效率品质级别和填充因子损失比，确定出该电池片的品质级别。本发明实施例提供的电池片品质确定方法及装置，通过对电池片确定电池片的转换效率后，再将转换效率相匹配的电池片按照其填充因子损失比进行划分，从而确定出电池片最终的品质级别，以使得采用相同品质级别的电池片制备的光伏组件之间具有相同的填充因子损失比，进而保证电池片之间的匹配关系，进一步提高采用该品质确定方法划分的电池片制备的光伏组件的弱光响应，并提升光伏组件发电能力。 | ||
| 搜索关键词： | 电池 品质 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电池片品质确定方法，其特征在于，包括：根据所述电池片的转换效率，获取所述电池片的效率品质级别；获取所述电池片的品质参数，计算所述电池片的填充因子损失比；根据所述效率品质级别和所述填充因子损失比，确定所述电池片的品质级别。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
