[发明专利]一种基于电磁波的刀具的监测方法及监测系统在审
申请号: | 201711488124.9 | 申请日: | 2017-12-30 |
公开(公告)号: | CN108106551A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 谭易东;潘奕;丁庆 | 申请(专利权)人: | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 刘雯 |
地址: | 518102 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于电磁波的刀具的监测方法。该方法包括:向所述刀具的刀片发射探测波;所述探测波为太赫兹频段的电磁波;接收透过所述刀片的电磁波,该电磁波为衰减波;比较所述衰减波和所述探测波,得到所述刀片的吸收光谱;根据所述吸收光谱计算所述刀片的厚度。本发明还涉及一种基于电磁波的刀具的监测系统。上述基于电磁波的刀具的监测方法及监测系统,利用太赫兹频段的电磁波测量刀片的厚度。具体地,利用太赫兹频段的电磁波透过刀片时的吸收光谱,计算刀片的厚度。实现了刀片厚度无接触式的测量,测量简单,并且利用吸收光谱科学计算刀片的厚度,测量精度较高,因此测量效果较好。 | ||
搜索关键词: | 电磁波 刀片 刀具 吸收光谱 监测系统 探测波 频段 测量 衰减波 监测 电磁波测量 测量效果 计算刀片 科学计算 无接触式 发射 | ||
【主权项】:
1.一种基于电磁波的刀具的监测方法,其特征在于,所述刀具的刀片的分子是非极性分子,所述方法包括步骤:向所述刀具的刀片发射探测波;所述探测波为太赫兹频段的电磁波;接收透过所述刀片的电磁波,该电磁波为衰减波;比较所述衰减波和所述探测波,得到所述刀片的吸收光谱;根据所述吸收光谱计算所述刀片的厚度。
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