[发明专利]一种芯片设计错误的定位方法和装置在审
申请号: | 201711488572.9 | 申请日: | 2017-12-30 |
公开(公告)号: | CN107895099A | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 赵茂聪;何志川;李磊;蒋华;周杰 | 申请(专利权)人: | 盛科网络(苏州)有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙)32235 | 代理人: | 杨林洁 |
地址: | 215021 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种芯片验证方法,包括以下步骤获取所述芯片对应的仿真模块,所述仿真模块能够实现芯片的功能、且设置有若干第二寄存器,所述若干第二寄存器与所述芯片中的所有第一寄存器一一对应;向所述芯片写入输入数据,读取所述芯片中的所有第一寄存器中的数据,控制所述芯片运行并获取运行结果;在确定所述运行结果不符合预设条件时,向仿真模块输入所述输入数据,且在仿真模块执行过程,通过芯片提供的IO接口将读取的所有第一寄存器中的数据写入所对应的第二寄存器,并以调试的方式运行所述仿真模块且存储调试信息。由于存储调试信息,使得芯片设计人员能够获取仿真模块的整个执行过程,且其成本低廉。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 设计 错误 定位 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种芯片验证方法,其特征在于,包括以下步骤:获取所述芯片对应的仿真模块,所述仿真模块能够实现芯片的功能、且设置有若干第二寄存器,所述若干第二寄存器与所述芯片中的所有第一寄存器一一对应;向所述芯片写入输入数据,读取所述芯片中的所有第一寄存器中的数据,控制所述芯片运行并获取运行结果;在确定所述运行结果不符合预设条件时,向仿真模块输入所述输入数据,且在仿真模块执行过程,通过芯片提供的IO接口将读取的所有第一寄存器中的数据写入所对应的第二寄存器,并以调试的方式运行所述仿真模块且存储调试信息。
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