[发明专利]光纤性能分析方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 201711492283.6 | 申请日： | 2017-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN109990974A | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 杨帆 | 申请（专利权）人： | 中国移动通信集团辽宁有限公司;中国移动通信集团公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 朱琳 |
| 地址： | 110179 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种光纤性能分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取待分析光纤割接后的若干纤芯的测试数据；设置分析参数，分析参数用于表征光纤割接后的若干纤芯的质量；依据测试数据与分析参数，将若干纤芯的测试数据分为若干组分别分析，每一组纤芯的测试数据对应一自动分析器，自动分析器分析出对应组的若干纤芯中的事件点与事件位置，结合光纤的理论长度，计算出若干纤芯各自的总衰耗和平均衰耗，以获得对应组的若干纤芯的质量数据；排除质量数据中重复的数据，以获得光纤性能的分析结果。通过本发明实施例的技术方案，能够提升光纤性能分析效率、降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 纤芯 光纤 测试数据 分析参数 性能分析 自动分析器 存储介质 质量数据 割接 衰耗 测试数据对应 事件位置 分析 重复 | ||
【主权项】：
1.一种光纤性能分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取待分析光纤割接后的若干纤芯的测试数据；设置分析参数，所述分析参数用于表征所述光纤割接后的若干所述纤芯的质量；依据所述测试数据与所述分析参数，将若干所述纤芯的测试数据分为若干组分别分析，每一组纤芯的测试数据对应一自动分析器，所述自动分析器分析出对应组的若干所述纤芯中的事件点与事件位置，结合所述光纤的理论长度，计算出若干所述纤芯各自的总衰耗和平均衰耗，以获得对应组的若干所述纤芯的质量数据；排除所述质量数据中重复的数据，以获得所述光纤性能的分析结果。
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