[实用新型]一种引线框架检视装置有效
申请号: | 201720196145.2 | 申请日: | 2017-03-01 |
公开(公告)号: | CN206505894U | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
发明(设计)人: | 柴力;林维 | 申请(专利权)人: | 东莞市中之电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/677 |
代理公司: | 东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙)44400 | 代理人: | 何新华 |
地址: | 523430 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型系提供一种引线框架检视装置,涉及检视装置。本实用新型包括机架,机架两侧各设有一支撑架,支撑架的一端设有框架收卷机构,支撑架的另一端设有纸张收卷机构,机架上还设有框架检查机构,框架检查机构位于两支撑架之间;框架收卷机构包括框架卷盘、第一电机,纸张收卷机构包括纸张卷盘、第二电机,框架检查机构包括检查底板,检查底板上设有压紧块,压紧块连接有第一气缸。本实用新型成本较低,能够实现引线框架卷的展开、收卷自动化,将人手从展开、收卷的工作中解放出来,降低工人的工作强度,能有效提高检查的效率,同时能对整卷的引线框架进行检查,检查结果的可靠性高。 | ||
搜索关键词: | 一种 引线 框架 检视 装置 | ||
【主权项】:
一种引线框架检视装置,其特征在于,包括机架(10),所述机架(10)两侧各设有一支撑架(11),所述支撑架(11)的一端设有框架收卷机构(20),所述支撑架(11)的另一端设有纸张收卷机构(30),所述机架(10)上还设有框架检查机构(40),所述框架检查机构(40)位于所述两支撑架(11)之间;所述框架收卷机构(20)包括框架卷盘(21)、第一电机(22),所述框架卷盘(21)连接所述第一电机(22)的输出端;所述纸张收卷机构(30)包括纸张卷盘(31)、第二电机(32),所述纸张卷盘(31)连接所述第二电机(32)的输出端;所述框架检查机构(40)包括检查底板(41),所述检查底板(41)上设有压紧块(42),所述压紧块(42)连接有第一气缸(421)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造