[实用新型]芯片磁场测试设备有效
| 申请号： | 201720217049.1 | 申请日： | 2017-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN206696347U | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 曹波;张春成 | 申请（专利权）人： | 上海锕特科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人： | 王宇聪 |
| 地址： | 201900 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及自动化设备技术领域，尤其涉及芯片磁场测试设备，包括为待测芯片提供密封环境的隔磁箱体和设于所述隔磁箱体内并用于固定所述芯片的产品固定座，所述隔磁箱体内设有用于产生磁场的磁场发生器以及接收在所述磁场环境下的所述芯片反馈的测试信号的测试数据反馈装置；所述芯片磁场测试设备还包括与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接并根据所述测试信号以判断所述芯片是否合格的控制柜。本实用新型芯片磁场测试设备，能够提供具有磁场的环境以对芯片进行测试，并自动判断被测试的该芯片是否符合要求，进而判断出该芯片是否为合格的产品。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 磁场 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种芯片磁场测试设备，其特征在于：包括为待测芯片提供密封环境的隔磁箱体和设于所述隔磁箱体内并用于固定所述芯片的产品固定座，所述隔磁箱体内设有用于产生磁场的磁场发生器以及接收在所述磁场环境下的所述芯片反馈的测试信号的测试数据反馈装置；所述芯片磁场测试设备还包括与所述磁场发生器和所述测试数据反馈装置通讯连接并根据所述测试信号以判断所述芯片是否合格的控制柜。
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