[实用新型]实时测量紫外光强度的硅片光刻机有效
申请号: | 201720270642.2 | 申请日: | 2017-03-20 |
公开(公告)号: | CN206638949U | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 刘珊珊 | 申请(专利权)人: | 苏州汶颢微流控技术股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种实时测量紫外光强度的硅片光刻机,包括紫外光遮罩体,该紫外光遮罩体具有一光刻腔体,光刻腔体内上下依次设置有照明系统、掩膜台系统和自动对准系统,照明系统包括紫外光源和紫外辐射照计模块,紫外光遮罩体上设置有操作面板,该操作面板包括紫外线强度显示窗口,紫外光遮罩体开设有样品取置窗口,该取置窗口遮盖有紫外光隔离门。本新型在光源附近设置紫外辐射照计模块,用于实时测量和查看紫外线的强度,比现有的光刻机增加了光强参数,具有及时更换紫外灯,增加了曝光的成功率的优势,另外,本新型的光刻机设置了保护系统,避免了曝光过程中紫外光对人体及环境产生伤害,具有人性化、绿色的优点。 | ||
搜索关键词: | 实时 测量 紫外光 强度 硅片 光刻 | ||
【主权项】:
一种实时测量紫外光强度的硅片光刻机,其特征在于,包括紫外光遮罩体,该紫外光遮罩体具有一光刻腔体,所述光刻腔体内上下依次设置有照明系统、掩膜台系统和自动对准系统,所述照明系统包括紫外光源和紫外辐射照计模块,所述紫外光遮罩体上设置有操作面板,所述紫外辐射照计模块连接于所述照明系统,该操作面板包括紫外线强度显示窗口,所述紫外光遮罩体开设有样品取置窗口,该取置窗口遮盖有紫外光隔离门。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州汶颢微流控技术股份有限公司,未经苏州汶颢微流控技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201720270642.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:摄像头模组测试辅具
- 下一篇:一种转动式出粉的粉仓和硒鼓