[实用新型]实时测量紫外光强度的硅片光刻机有效

专利信息
申请号: 201720270642.2 申请日: 2017-03-20
公开(公告)号: CN206638949U 公开(公告)日: 2017-11-14
发明(设计)人: 刘珊珊 申请(专利权)人: 苏州汶颢微流控技术股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32256 代理人: 王锋
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种实时测量紫外光强度的硅片光刻机,包括紫外光遮罩体,该紫外光遮罩体具有一光刻腔体,光刻腔体内上下依次设置有照明系统、掩膜台系统和自动对准系统,照明系统包括紫外光源和紫外辐射照计模块,紫外光遮罩体上设置有操作面板,该操作面板包括紫外线强度显示窗口,紫外光遮罩体开设有样品取置窗口,该取置窗口遮盖有紫外光隔离门。本新型在光源附近设置紫外辐射照计模块,用于实时测量和查看紫外线的强度,比现有的光刻机增加了光强参数,具有及时更换紫外灯,增加了曝光的成功率的优势,另外,本新型的光刻机设置了保护系统,避免了曝光过程中紫外光对人体及环境产生伤害,具有人性化、绿色的优点。
搜索关键词: 实时 测量 紫外光 强度 硅片 光刻
【主权项】:
一种实时测量紫外光强度的硅片光刻机,其特征在于,包括紫外光遮罩体,该紫外光遮罩体具有一光刻腔体,所述光刻腔体内上下依次设置有照明系统、掩膜台系统和自动对准系统,所述照明系统包括紫外光源和紫外辐射照计模块,所述紫外光遮罩体上设置有操作面板,所述紫外辐射照计模块连接于所述照明系统,该操作面板包括紫外线强度显示窗口,所述紫外光遮罩体开设有样品取置窗口,该取置窗口遮盖有紫外光隔离门。
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