[实用新型]测量装置及基板玻璃垂度测量设备有效
| 申请号： | 201720416256.X | 申请日： | 2017-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN206627063U | 公开（公告）日： | 2017-11-10 |
| 发明（设计）人： | 王步洲;刘奎宁;史伟华;严永海;常慧;姚小阔;杜延军 | 申请（专利权）人： | 东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B9/04 | 分类号： | G01B9/04;G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司11283 | 代理人： | 蒋爱花,李翔 |
| 地址： | 100075 北京市丰台区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测量装置及基板玻璃测量设备，所述测量装置包括显微镜(1)及刻度尺(2)，所述显微镜(1)的物镜(11)上具有多条第一刻度线(12)，所述刻度尺(2)具有多个第二刻度线(21)，所述显微镜(1)和所述刻度尺(2)设置为所述第一刻度线(12)能够与所述第二刻度线(21)配合进行测量。本实用新型提供的测量装置及基板玻璃测量设备，能够提高基板玻璃的垂度测量精度，为基板玻璃的制造提供品质保障。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 玻璃 设备 | ||
【主权项】：
一种测量装置，其特征在于，所述测量装置包括显微镜(1)及刻度尺(2)，所述显微镜(1)的物镜(11)上具有多条第一刻度线(12)，所述刻度尺(2)具有多条第二刻度线(21)，所述显微镜(1)和所述刻度尺(2)设置为所述第一刻度线(12)能够与所述第二刻度线(21)配合进行测量。
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