[实用新型]一种性能稳定的集成电路芯片测试装置

摘要

本实用新型公开了一种性能稳定的集成电路芯片测试装置，包括支架、引脚插座、测试电路板、U形框、横杆、滑套和连接头，所述测试电路板固定安装在支架底部连接的底座上，测试电路板上印刷有若干个测试电路，所述测试电路板的正上方设置有U形框，U形框的一边焊接在支架上，所述横杆的两端均焊接有与其垂直的滑套，而横杆两端的滑套分别滑动连接在U形框的两条边上，该U形框上滑动连接两条相互平行的横杆。本实用能够根据芯片的型号选择一定数量的引脚插座进行测试，使得设备的测试范围更加广泛，而本实用采用插接式的引脚插座去连接集成电路芯片的引脚，使得不损伤集成电路芯片的同时，保证测试的稳定。

主权项

一种性能稳定的集成电路芯片测试装置，包括支架(1)、引脚插座(2)、测试电路板(3)、U形框(4)、横杆(5)、滑套(6)和连接头(7)，所述测试电路板(3)固定安装在支架(1)底部连接的底座上，测试电路板(3)上印刷有若干个测试电路，其特征在于，测试电路与集成电路芯片(8)连接的点通过锡焊焊接导线的一端，导线的另一端焊接在连接头(7)上；所述测试电路板(3)的正上方设置有U形框(4)，U形框(4)的一边焊接在支架(1)上，所述横杆(5)的两端均焊接有与其垂直的滑套(6)，而横杆(5)两端的滑套(6)分别滑动连接在U形框(4)的两条边上，该U形框(4)上滑动连接两条相互平行的横杆(5)；所述横杆(5)上滑动连接多个引脚插座(2)，集成电路芯片(8)的引脚插接在引脚插座(2)内，同时引脚插座(2)侧面的导电柱(21)连接连接头(7)。