[实用新型]一种浮栅存储器有效

专利信息
申请号: 201720485135.0 申请日: 2017-05-04
公开(公告)号: CN206877997U 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 许毅胜;熊涛;刘钊;舒清明 申请(专利权)人: 上海格易电子有限公司;北京兆易创新科技股份有限公司
主分类号: H01L27/11556 分类号: H01L27/11556
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 孟金喆,胡彬
地址: 201203 上海市浦东新区张*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型实施例提供了一种浮栅存储器,该浮栅存储器包括衬底;形成在所述衬底上的多个凹槽;形成所述凹槽内的隔离绝缘层,所述衬底的上表面高度高于所述隔离绝缘层的上表面,以形成衬底凸起;形成在所述衬底凸起上方的隧穿氧化层,所述隧穿氧化层延伸在所述隔离绝缘层上方;形成在所述隧穿氧化层上方的浮栅,所述浮栅覆盖所述隧穿氧化层;形成在所述浮栅上方的层间绝缘层,所述层间绝缘层延伸至所述隧穿氧化层上方;覆盖在所述层间绝缘层上方的控制栅。本实用新型实施例提供的一种浮栅存储器,将浮栅存储器的沟道图形制作成三维凸起结构,减小了浮栅存储器的尺寸的同时,没有减小沟道长度,巧妙地避免了短沟道效应。
搜索关键词: 一种 存储器
【主权项】:
一种浮栅存储器,其特征在于,包括:衬底;形成在所述衬底上的多个凹槽;形成所述凹槽内的隔离绝缘层,所述衬底的上表面高度高于所述隔离绝缘层的上表面,以形成衬底凸起;形成在所述衬底凸起上方的隧穿氧化层,所述隧穿氧化层延伸在所述隔离绝缘层上方;形成在所述隧穿氧化层上方的浮栅,所述浮栅覆盖所述隧穿氧化层;形成在所述浮栅上方的层间绝缘层,所述层间绝缘层延伸至所述隧穿氧化层上方;覆盖在所述层间绝缘层上方的控制栅。
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