[实用新型]一种太赫兹探测器的均匀性测试装置有效
| 申请号： | 201720540200.5 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN206709972U | 公开（公告）日： | 2017-12-05 |
| 发明（设计）人： | 董杰;韩顺利;张鹏;吴寅初;韩强 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司37221 | 代理人： | 赵妍 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种太赫兹探测器的均匀性测试装置，包括太赫兹光源，所述太赫兹光源输出的光先后经过光阑和太赫兹分束镜，经过太赫兹分束镜后变成两路，一路为校准路，进入标准功率计，另一路为探测路，探测路的光再经过一太赫兹反射镜进入待测探测器；待测探测器输出的信号经过处理模块进入PC终端；所述待测探测器由平移台带动变换位置，所述平移台的运动由控制系统控制。简单易行，通过引入太赫兹光源稳定性标定模块和自动化探测器移动控制模块，减少不稳定太赫兹光源和手动操作的影响，由此获得了更加准确可信的探测器均匀性数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 赫兹 探测器 均匀 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种太赫兹探测器的均匀性测试装置，其特征是，包括太赫兹光源，所述太赫兹光源输出的光先后经过光阑和太赫兹分束镜，经过太赫兹分束镜后变成两路，一路为校准路，进入标准功率计，另一路为探测路，探测路的光再经过一太赫兹反射镜进入待测探测器；待测探测器输出的信号经过处理模块进入PC终端；所述待测探测器由平移台带动变换位置，所述平移台的运动由控制系统控制。
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