[实用新型]温度循环测试台有效
| 申请号： | 201720603834.0 | 申请日： | 2017-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN206960514U | 公开（公告）日： | 2018-02-02 |
| 发明（设计）人： | 张轶鸣;杨曼;刘建军 | 申请（专利权）人： | 昆山迈致治具科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种温度循环测试台。包括下控温模组，用于放置待测产品；上控温模组，与所述下控温模组相对设置，所述上控温模组和下控温模组的远离所述待测产品的方向均依次包括导热绝缘层、导热层和半导体制冷片层；第一温度传感器和第二温度传感器，埋设于所述上控温模组和下控温模组的导热层内，分别用于获取所述待测产品和半导体制冷片层的温度信息；控制电路，用于根据所述第一温度传感器和第二温度传感器反馈的温度信息调节所述半导体制冷片层的输出。从而提高待测产品的控温精度和速度。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 循环 测试 | ||
【主权项】：
一种温度循环测试台，其特征在于，包括：下控温模组，用于放置待测产品；上控温模组，能上下移动，与所述下控温模组相对设置，所述上控温模组和下控温模组的远离所述待测产品的方向均依次包括导热绝缘层、导热层和半导体制冷片层；第一温度传感器，埋设于所述上控温模组和下控温模组的导热层内，用于获取所述待测产品的温度信息；第二温度传感器，埋设于所述上控温模组和下控温模组的导热层内，用于获取所述半导体制冷片层的温度信息；控制电路，输入端分别连接所述第一温度传感器和第二温度传感器，输出端连接所述半导体制冷片层，用于根据所述第一温度传感器和第二温度传感器反馈的温度信息调节所述半导体制冷片层的输出。
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