[实用新型]晶片电性能测试装置有效
| 申请号： | 201720768768.2 | 申请日： | 2017-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN207164176U | 公开（公告）日： | 2018-03-30 |
| 发明（设计）人： | 李晓佳;王毅 | 申请（专利权）人： | 扬州扬杰电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙)32283 | 代理人： | 周全 |
| 地址： | 225008 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 晶片电性能测试装置。涉及晶片制造领域，尤其涉及对晶片电性能测试装置的改进。快速获知晶片测试结果且能有效缓解工作人员疲劳、测试效率高、单个晶片测试时间短。包括测试仪和测试笔，测试仪和测试笔之间通过信号线或无线传输连接，所述测试笔上设有开始按钮、通路指示灯和合格指示灯，所述开始按钮、通路指示灯和合格指示灯串联连接后连接5V电源；所述开始按钮与所述通路指示灯之间设有门极可关断晶闸管，所述门极可关断晶闸管的门极连接一台脉冲发生器，所述门极可关断晶闸管的阳极连接开始按钮，所述门极可关断晶闸管的阴极连接通路指示灯。从整体上具有能快速获知晶片测试结果且能有效缓解工作人员疲劳、测试效率高、单个晶片测试时间短的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
晶片电性能测试装置，包括测试仪和测试笔，测试仪和测试笔之间通过信号线或无线传输连接，其特征在于，所述测试笔上设有开始按钮、通路指示灯和合格指示灯，所述开始按钮、通路指示灯和合格指示灯串联连接后连接5V电源；所述开始按钮与所述通路指示灯之间设有门极可关断晶闸管，所述门极可关断晶闸管的门极连接一台脉冲发生器，所述门极可关断晶闸管的阳极连接开始按钮，所述门极可关断晶闸管的阴极连接通路指示灯。
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