[实用新型]一种半导体芯片封装分解剥离装置有效
申请号: | 201720777725.0 | 申请日: | 2017-06-29 |
公开(公告)号: | CN207577683U | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 刘世文;刘志奇 | 申请(专利权)人: | 深圳市森美协尔科技有限公司 |
主分类号: | B23K26/38 | 分类号: | B23K26/38;B23K10/00;B23K26/346 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种半导体芯片封装分解剥离装置,该装置包括载物台、处理器、模式选择开关、激光器和等离子发生器,模式选择开关包括三个可选择模式,即激光模式、等离子模式和混合模式,模式选择开关将所选择的模式信息发送至处理器,处理器根据所选择的模式信息,发送相应的控制信号至激光器或/和等离子发生器。由于通过激光器发出激光束可快速烧结消除分解半导体芯片封装,使用等离子发生器输出的等离子气体也可熔化和气化半导体芯片封装,使得封装被分解剥离得更彻底,分解剥离效率高,分解剥离的效果好,减小了分解剥离过程对芯片绑定线路的氧化与损伤,不留残余。 | ||
搜索关键词: | 分解 半导体芯片封装 等离子发生器 模式选择开关 激光器 处理器 剥离装置 模式信息 剥离 发送 等离子模式 等离子气体 剥离过程 混合模式 激光模式 控制信号 快速烧结 选择模式 激光束 可熔化 载物台 绑定 减小 气化 封装 损伤 芯片 输出 | ||
【主权项】:
1.一种半导体芯片封装分解消除装置,包括用于放置待处理的半导体芯片的载物台,其特征在于还包括处理器、模式选择开关、激光器和等离子发生器;其中,所述模式选择开关与处理器相连接,所述处理器用于根据模式选择开关所选择的模式控制激光器和/或等离子发生器;所述激光器设置于载物台正上方,所述激光器与所述处理器控制连接,用于在处理器的控制下烧结所述半导体芯片封装;所述等离子发生器与所述处理器控制连接,用于在处理器的控制下将所述半导体芯片封装熔化后气化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市森美协尔科技有限公司,未经深圳市森美协尔科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201720777725.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种安全激光雕刻机
- 下一篇:一种同步带传动切割桥