[实用新型]利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构有效
| 申请号： | 201720942368.9 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN207301114U | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 梁国辉;曾泽湘;杨先昭;骆涛 | 申请（专利权）人： | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州市红荔专利代理有限公司44214 | 代理人： | 王贤义 |
| 地址： | 519180 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构，旨在提供一种结构简单、维修方便、成本低和误测率低的利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构。本实用新型包括底座和与所述底座相铰接的上盖及固定设置于所述底座内的针板结构，所述针板结构包括从上至下依次设置的压盖、转接排线、硅胶针板、金手指和载板，所述硅胶针板和所述载板之间设有与所述金手指相适配的卡缝。本实用新型应用于金手指测试的技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 硅胶 测试 高精度 手指 结构 | ||
【主权项】：
一种利用硅胶针测试高精度金手指的测试结构，其特征在于：它包括底座（1）和与所述底座（1）相铰接的上盖（2）及固定设置于所述底座（1）内的针板结构（3），所述针板结构（3）包括从上至下依次设置的压盖（4）、转接排线（5）、硅胶针板（6）、金手指（7）和载板（8），所述硅胶针板（6）和所述载板（8）之间设有与所述金手指（7）相适配的卡缝。
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