[实用新型]一种光纤中继芯片测试系统

摘要

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种光纤中继芯片测试系统。在光纤中继芯片测试系统中加入误码率分析仪和处理单元，通过处理单元发出的启动信号促使误码率分析仪输出一个检测信号，这个检测信号传输到被测芯片后由被测芯片生成反馈信号返回给误码率分析仪，误码率分析仪用检测信号和反馈信号就可以判断这个被测芯片的误码率情况，从而实现对芯片的误码率的测试。同时，探针卡和测试机配合测试芯片工作电流和相关DC参数，该光纤中继芯片测试系统依然可以对芯片工作电流和相关DC参数进行测试。

主权项

一种光纤中继芯片测试系统，包括用于插接被测芯片的探针卡和对被测芯片进行测试的测试机，其特征在于，还包括误码率分析仪和处理单元，所述处理单元与所述误码率分析仪相互通信，所述误码率分析仪连接到所述探针卡；所述处理单元用于接收外部指令信号并发出启动信号给所述误码率分析仪，所述误码率分析仪根据收到的启动信号发出检测信号给所述探针卡，所述探针卡与所述被测芯片通信从而传输检测信号给所述被测芯片，所述被测芯片根据收到的检测信号输出反馈信号，该反馈信号经所述探针卡传输给误码率分析仪，所述误码率分析仪根据发出的检测信号和收到的反馈信号的比较结果输出误码率判断信号给所述处理单元，所述处理单元根据所述误码率判断信号生成误码率数值。