[实用新型]手动芯片测试盖有效
| 申请号： | 201721359603.6 | 申请日： | 2017-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN207380199U | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 李俊敏;李俊强 | 申请（专利权）人： | 东莞市睿辉机电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳茂达智联知识产权代理事务所(普通合伙) 44394 | 代理人： | 夏龙 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种手动芯片测试盖，包括支撑座、压头、挂钩、基座和调节螺栓，所述支撑座设于基座下方，所述支撑座上设有通孔，所述压头设于支撑座的通孔中，所述挂钩铰接于基座的侧面，所述基座设有调节孔，所述调节孔内设有螺纹，所述调节螺栓与调节孔内的螺纹配合，所述压头弹性固定于基座的下部，所述调节螺栓的下部抵接压头。本实用新型提供的手动芯片测试盖，可测试不同厚度的芯片，准确率高。 | ||
| 搜索关键词： | 手动 芯片 测试 | ||
【主权项】：
1.一种手动芯片测试盖，包括支撑座、压头、挂钩和基座，所述支撑座设于基座下方，所述支撑座上设有通孔，所述压头设于支撑座的通孔中，所述挂钩铰接于基座的侧面，其特征在于，还包括调节螺栓，所述基座设有调节孔，所述调节孔内设有螺纹，所述调节螺栓与调节孔内的螺纹配合，所述压头弹性固定于基座的下部，所述调节螺栓的下部抵接压头。
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