[实用新型]一种芯片测试和编带调整装置有效

专利信息
申请号: 201721378527.3 申请日: 2017-10-24
公开(公告)号: CN207381368U 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: 李国祥;汪阳;胡惠民;邱冬冬 申请(专利权)人: 长电科技(滁州)有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/68;H01L21/687
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 蒋海军
地址: 239000 安徽省滁州市经济*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种芯片测试和编带调整装置,属于芯片测试和包装技术领域。本实用新型包括吸嘴、测试装置以及在载带上方按工艺顺序排列的防翘脚入袋机构和防盖带偏移机构,吸嘴将测试装置测试后的芯片转入防翘脚入袋机构,其中:测试装置包括霍尔线圈,在所述霍尔线圈顶部的调试区的几何中心处设置一测试芯片的沉孔,达到提供稳定磁场的目的;防翘脚入袋机构包括方形压板和由方形压板的中部向载带运行方向外伸设置的编带窗口;编带窗口底部开放为外开口;防盖带偏移机构包括压板、支架和固定架;压板、支架和固定架依次连接,连接方式为软连接;编带窗口和盖带槽的竖向中心线在同一平面,以保证芯片入袋后盖带和载带封合的均匀和严密。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 调整 装置
【主权项】:
1.一种芯片测试和编带调整装置,包括吸嘴(9)、测试装置(1)以及在载带(7)上方按工艺顺序排列的防翘脚入袋机构(2)和防盖带偏移机构(3),所述吸嘴(9)将测试装置(1)测试后的芯片(8)转入防翘脚入袋机构(2),其特征在于,其中:所述测试装置(1)包括霍尔线圈(11),在所述霍尔线圈(11)顶部的调试区的几何中心处设置一测试芯片(8)的沉孔;所述防翘脚入袋机构(2)包括方形压板(21)和由方形压板(21)的中部向载带(7)运行方向外伸设置的编带窗口(22);方形压板(21)和编带窗口(22)固定连接成一体;所述编带窗口(22)底部开放为外开口(225);所述防盖带偏移机构(3)包括压板(31)、支架(32)和固定架(33);所述压板(31)、支架(32)和固定架(33)依次连接,连接方式为软连接,压板(31)的侧面设有引导盖带走向的盖带槽(311),盖带槽(311)的宽度和盖带一致;所述编带窗口(22)和盖带槽(311)的竖向中心线在同一平面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长电科技(滁州)有限公司,未经长电科技(滁州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201721378527.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top