[实用新型]电容器阵列结构有效

专利信息
申请号: 201721469979.2 申请日: 2017-11-07
公开(公告)号: CN207398140U 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 睿力集成电路有限公司
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64;H01L27/108
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型提供一种电容器阵列结构,电容器阵列结构设置于半导体衬底上,半导体衬底上形成有多个在内存数组结构中的焊盘,电容器阵列结构包括:下电极层,接合于焊盘上,下电极层的截面形状为U型;电容介质层,覆盖于下电极层的内表面及外表面;上电极层,覆盖于电容介质层的外表面;及,上电极填充层,覆盖上电极层的外表面,并填满上电极层之间的间隙,上电极填充层的材质包含硼掺杂锗硅。本实用新型可以降低形成对的工艺温度,从而降低热预算对电容介质层的影响;同时可以提高载流子移动速率,从而可以降低填充层的电阻值。
搜索关键词: 电容器 阵列 结构
【主权项】:
1.一种电容器阵列结构,其特征在于,所述电容器阵列结构设置于半导体衬底上,所述半导体衬底上形成有多个在内存数组结构中的焊盘,所述电容器阵列结构包括:下电极层,接合于所述焊盘上,所述下电极层的截面形状为U型;电容介质层,覆盖于所述下电极层的内表面及外表面;上电极层,覆盖于所述电容介质层的外表面;及上电极填充层,覆盖所述上电极层的外表面,并填满所述上电极层之间的间隙,所述上电极填充层的材质包含硼掺杂锗硅(B-doped SiGe)。
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