[实用新型]存储器测试装置有效

专利信息
申请号: 201721751730.0 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN207690508U 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 睿力集成电路有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京市铸成律师事务所 11313 代理人: 张臻贤;武晨燕
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种存储器测试装置,所述装置包括环形振荡电路以及计数电路。环形振荡电路配置为从存储器电路接收数据处理开始信号,并且响应于所述数据处理开始信号发生振荡信号,并从所述存储器电路接收数据处理结束信号,并且响应于所述数据处理结束信号停止发生所述振荡信号。计数电路配置为接收所述环形振荡电路输出的振荡信号,计算在所述振荡信号持续的时间内,所述振荡电路中的脉冲周期数,以根据所述脉冲周期数确定所述存储电路处理数据的时间。本实用新型技术方案可以实现测量所述存储器电路处理数据的时间,根据存储器电路的处理数据的时间来进行存储器的其他性能开发,这样便于研发人员更有效率地对存储器进行开发。
搜索关键词: 存储器电路 振荡信号 数据处理 环形振荡电路 处理数据 存储器测试装置 存储器 计数电路 开始信号 脉冲周期 本实用新型 存储电路 信号停止 性能开发 振荡电路 响应 研发 配置 测量 输出 开发
【主权项】:
1.一种存储器测试装置,其特征在于,所述装置包括:环形振荡电路,配置为从存储器电路接收数据处理开始信号,并且响应于所述数据处理开始信号发生振荡信号;以及从所述存储器电路接收数据处理结束信号,并且响应于所述数据处理结束信号停止发生所述振荡信号;以及计数电路,配置为接收所述环形振荡电路输出的振荡信号,在所述振荡信号持续的时间内,对所述环形振荡电路中的脉冲周期数进行计数,以根据所述脉冲周期数确定所述存储器电路处理数据的时间。
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