[发明专利]光学检查装置、透镜以及光学检查方法有效
| 申请号： | 201780003987.4 | 申请日： | 2017-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN108291854B | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 井川喜博;千叶博伸;上野善弘 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 齐秀凤 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学检查装置、透镜以及光学检查方法。光学检查装置(100)具备LED(101)、卡片(102)、准直仪(103)和反射镜(111)。LED(101)向卡片(102)照射光，由此对准直仪(103)照射光而作为轴上光线。由此，卡片(102)的图案经由准直仪(103)以及被检光学系统(120)而投影至图像传感器(130)的中心部。反射镜(111)对该轴上光线之中的经由准直仪(103)照射至反射镜(111)的光进行反射。由此，反射镜(111)经由被检光学系统(120)而向图像传感器(130)的周边部投影卡片(102)的图案。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检查 装置 透镜 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学检查装置，对包括至少一个透镜的被检光学系统进行检查，所述光学检查装置具备：发光体；卡片，描绘出由所述发光体投影的图案；准直透镜，配设在所述卡片与所述被检光学系统之间；和反射镜，配设在所述准直透镜与所述被检光学系统之间，所述发光体向所述卡片照射光，由此对所述准直透镜照射光而作为轴上光线，并且将所述卡片的图案经由所述准直透镜以及所述被检光学系统而投影至图像传感器的中心部，所述反射镜对所述轴上光线之中的经由所述准直透镜照射至该反射镜的光进行反射，从而经由所述被检光学系统而投影至所述图像传感器的周边部。
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