[发明专利]防污性薄膜有效

专利信息
申请号: 201780005426.8 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN108495720B 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 林秀和;新纳厚志 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: B05D5/00 分类号: B05D5/00;B29C59/02;B32B3/30;B32B5/14;B32B27/16;B32B27/18;C08J7/18
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 汪飞亚;习冬梅
地址: 日本国大*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供防污性以及耐磨性优良的防污性薄膜。本发明为具备在表面具有凹凸构造的聚合体层的防污性薄膜,所述凹凸构造为多个凸部以可见光波长以下的间隔设置,所述聚合体层含有碳原子、氮原子、氧原子以及氟原子作为构成原子,通过X射线光电子能谱法测量的氟原子数相对于碳原子数、氮原子数、氧原子数以及氟原子数的总数的比例为在上述凹凸构造的表面为33atom%以上,往深度方向远离上述凹凸构造的表面90~120nm的区域的平均值为3atom%以下,通过X射线光电子能谱法测量的氮原子数相对于碳原子数、氮原子数、氧原子数以及氟原子数的总数的比例在往深度方向远离上述凹凸构造的表面90~120nm的区域的平均值为4atom%以下。
搜索关键词: 防污 薄膜
【主权项】:
1.一种防污性薄膜,其具备在表面具有凹凸构造的聚合体层,所述凹凸构造为多个凸部以可见光波长以下的间隔设置,所述聚合体层含有碳原子、氮原子、氧原子以及氟原子作为构成原子,通过X射线光电子能谱法测量的氟原子数相对于碳原子数、氮原子数、氧原子数以及氟原子数的总数的比例为在所述凹凸构造的表面为33atom%以上,往深度方向远离所述凹凸构造的表面90~120nm的区域的平均值为3atom%以下,通过X射线光电子能谱法测量的氮原子数相对于碳原子数、氮原子数、氧原子数以及氟原子数的总数的比例在往深度方向远离所述凹凸构造的表面90~120nm的区域的平均值为4atom%以下。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780005426.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top