[发明专利]距离测量装置有效

专利信息
申请号: 201780007142.2 申请日: 2017-02-15
公开(公告)号: CN108474849B 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 井上晓登;竹本征人;香山信三;石井基范;斋藤繁 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S17/14;G01C3/06;G01S7/487
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 安香子
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 距离测量装置(10)具备控制部(103)以及距离算出部(105)。控制部(103)在第1期间中,设定与第一测量距离范围对应的时间范围即第一测量时间范围,在第一测量时间范围,使发光部(101)发出射出光,使受光部(102)成为曝光状态,进而在第二期间中,设定与第二测量距离范围对应的时间范围即第二测量时间范围,在第二测量时间范围,使发光部(101)发出射出光,使受光部(102)成为曝光状态。在此,在第一期间和第二期间中,至少有一个测量条件是不同的,距离算出部(105),根据在第一期间或第二期间的至少一方的期间中,发光部(101)发出射出光的时刻到受光部(102)接受反射光的时刻为止的时间,算出距离测量装置(10)到测量对象物(60)的距离。
搜索关键词: 距离 测量 装置
【主权项】:
1.一种距离测量装置,具备:发光部,发出射出光;受光部,能够在曝光状态中,接受所述射出光在测量对象物反射的反射光;控制部,对所述发光部以及所述受光部进行控制;距离算出部,根据从所述发光部发出射出光的时刻到所述受光部接受反射光的时刻为止的时间,算出所述距离测量装置到所述测量对象物的距离;以及输出部,输出被算出的所述距离,所述控制部,在第一期间中,设定第一测量时间范围,该第一测量时间范围是与第一测量距离范围对应的时间范围,在所述第一测量时间范围,使所述发光部发出射出光,使所述受光部成为曝光状态,进而所述控制部,在第二期间中,设定第二测量时间范围,该第二测量时间范围是与第二测量距离范围对应的时间范围,在所述第二测量时间范围,使所述发光部发出射出光,使所述受光部成为曝光状态,在所述第一期间和所述第二期间中,至少有一个测量条件是不同的,所述距离算出部,根据在所述第一期间或所述第二期间的至少一方的期间中,所述发光部发出射出光的时刻到所述受光部接受反射光的时刻为止的时间,算出所述距离测量装置到所述测量对象物的距离。
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