[发明专利]测量集成电路的内部信号有效
| 申请号： | 201780010031.7 | 申请日： | 2017-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN108603914B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | K·D·默西;M·帕玛尔;P·塔德帕塞西;M·文卡特斯瓦兰 | 申请（专利权）人： | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 赵志刚;赵蓉民 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在所描述的示例中，集成电路(IC)(100)包括功能逻辑(105)和测试逻辑，该功能逻辑具有多个内部信号线。该测试逻辑具有耦合到多个内部信号线的多个输入(207)，以及具有耦合到IC(100)的第一外部引脚(102)的一个输出。测试逻辑包括缓冲器(223)，并且测试逻辑经配置以直接地或者经由缓冲器(223)将在多个信号线上接收的信号中的每一个选择性地耦合(221，222)到IC(100)的第一外部引脚(102)。测试逻辑可以经配置以经由缓冲器(223)将在IC(100)的第二外部引脚(101)上接收的信号选择性地耦合到IC(100)的第一外部引脚(102)以便校准缓冲器(223)。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 集成电路 内部 信号 | ||
【主权项】：
1.一种器件，其包含：一个或更多个电路块；多路复用器，其具有多个输入和一个输出；多个内部信号线，其从所述一个或更多个电路块耦合到所述多路复用器上的所述多个输入中的相应的一个；缓冲器，其具有耦合到所述多路复用器的所述输出的输入和选择性地耦合到所述器件的第一外部引脚的输出；以及直接信号线，其经配置以将所述多路复用器的所述输出直接选择性地耦合到所述器件的所述第一外部引脚，使得所述缓冲器被绕过。
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