[发明专利]使用相对的滤光器掩模进行相位检测自动聚焦有效
申请号: | 201780011056.9 | 申请日: | 2017-01-26 |
公开(公告)号: | CN108700472B | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 米科·奥利拉;雅尔诺·尼卡恩 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00;G01J9/02 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 宗晓斌 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于相位检测自动聚焦的示例传感器包括多个光电二极管以捕获多个波长的光。示例传感器还包括滤色器阵列,该滤色器阵列包括与多个光电二极管相对应的交替的彩色通过滤光器的格栅。示例传感器还包括掩模,该掩模包括多个滤光器,以通过阻挡至少两个交替的彩色通过滤光器的相对部分上的光带来分离光带。 | ||
搜索关键词: | 使用 相对 滤光 器掩模 进行 相位 检测 自动 聚焦 | ||
【主权项】:
1.一种用于相位检测自动聚焦的装置,包括:多个光电二极管,用于捕获多个波长的光;滤色器阵列,包括与所述多个光电二极管相对应的交替的彩色通过滤光器的格栅;以及掩模,包括多个滤光器以通过阻挡与所述交替的彩色通过滤光器相对应的至少两个光电二极管的相对部分上的光带来分离光带的检测,其中经分离的检测被用于相位检测自动聚焦。
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