[发明专利]存储器装置的接口裸片上的选择器有效
申请号: | 201780011552.4 | 申请日: | 2017-02-15 |
公开(公告)号: | CN108701489B | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 近藤力;芝田友之;铃木亮太 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12;G11C29/02;G11C5/02 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明描述包含通过存储器通道与裸片介接的接口芯片的设备。一种实例性设备包含:通过多个存储器通道与多个裸片介接的接口芯片,所述裸片中的每一者包括多个存储器单元,且所述接口芯片包括测试电路。所述测试电路包含:第一端子及第二端子,其分别对应于第一存储器通道及第二存储器通道;测试端子及内建自测试BIST电路,其由所述第一存储器通道及所述第二存储器通道所共有;及选择器,其耦合到所述第一端子及所述第二端子、所述测试端子以及所述BIST电路,且将所述第一端子、所述测试端子及所述BIST电路中的第一选定者耦合到所述第一通道且将所述第二端子、所述测试端子及所述BIST电路中的第二选定者耦合到所述第二通道。 | ||
搜索关键词: | 存储器 装置 接口 裸片上 选择器 | ||
【主权项】:
1.一种设备,其包括接口芯片,所述接口芯片经配置以通过至少第一存储器通道及第二存储器通道与多个裸片介接,所述多个裸片中的每一者包括多个存储器单元,且所述接口芯片包括测试电路,其中所述测试电路包括:第一端子及第二端子,所述第一端子及所述第二端子中的每一者对应于所述第一存储器通道及所述第二存储器通道;测试端子,其被设置成由所述第一存储器通道及所述第二存储器通道所共有;内建自测试BIST电路,其被设置成由所述第一存储器通道及所述第二存储器通道所共有;及选择器,其耦合到所述第一端子及所述第二端子、所述测试端子以及所述BIST电路,且经配置以将所述第一端子、所述测试端子及所述BIST电路中的第一选定者耦合到所述第一存储器通道,且将所述第二端子、所述测试端子及所述BIST电路中的第二选定者耦合到所述第二存储器通道,所述第一选定者不同于所述第二选定者。
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