[发明专利]一种测试方法、装置及终端有效
| 申请号： | 201780017698.X | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108781280B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 李庆;夏昌奇 | 申请（专利权）人： | 深圳市大疆创新科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种测试方法、装置及终端，其中，该测试方法可以从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。可见，实施该实施例，可以基于测试数据集实现曝光算法的离线测试，从而改善曝光算法的开发及优化效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 装置 终端 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，其特征在于，包括：从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。
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