[发明专利]底面位置检测装置、图像获取装置、底面位置检测方法以及图像获取方法在审

专利信息
申请号: 201780021925.6 申请日: 2017-04-05
公开(公告)号: CN108885088A 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 柴田文晴;池泽良介;小久保正彦 申请(专利权)人: 株式会社斯库林集团
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;C12M1/34;G02B7/28;G02B21/00;G01N1/28
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 向勇;宋晓宝
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 该图像获取装置(2)具有底面位置检测装置(1),可获取配置于容器的凹部的细胞的图像。底面位置检测装置(1)具有保持部(10)、光照射部(20)、检测部(30)以及控制部(70)。保持部(10)将容器(9)保持为水平。光照射部(20)向容器(9)的底部照射光。检测部(30)检测从容器(9)的底面即第一底面反射的第一反射光以及从凹部的底面即第二底面反射的第二反射光。控制部(71)基于检测部检测到的第一反射光的第一峰值位置以及第二反射光的第二峰值位置,计算第二底面的位置。由此,即使在容器底部存在厚度的偏差、底面的弯曲的情况下,也能够检测容器内的凹部的底面位置。
搜索关键词: 底面位置 检测 反射光 底面 检测装置 凹部 图像获取装置 峰值位置 光照射部 反射 图像获取 照射光 图像 细胞 配置
【主权项】:
1.一种底面位置检测装置,检测透光性的容器的底面位置,其中,所述底面位置检测装置具有:保持部,将所述容器保持为水平;光照射部,向所述容器的底部照射光;检测部,检测从所述光照射部照射并在所述容器反射的光;以及控制部,所述容器具有沿上下凹陷的一个以上的凹部,所述检测部检测从所述容器的底面即第一底面反射的第一反射光以及从所述凹部的底面即第二底面反射的第二反射光,所述控制部基于所述检测部检测到的第一反射光的第一峰值位置以及第二反射光的第二峰值位置,计算所述第二底面的位置。
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