[发明专利]组合传感器有效

专利信息
申请号: 201780022093.X 申请日: 2017-03-31
公开(公告)号: CN109073352B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 拉斐尔·德施勒;迈克尔·约斯特;克里斯蒂安·胡格勒;雷托·霍弗 申请(专利权)人: 施洛伊尼格股份公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02;G01B7/12;G01B11/08;G01B11/10;G01N33/36;G01N21/952
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 田云
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于自动地非接触式检测比如线缆、电线或型材的细长物体(W)的装置,具有准同轴布置的包括以下的组:用于确定外径的第一光学测量系统(D)和用于使用不同的测量原理来确定颜色的第二光学测量系统(C)。这两个测量系统(C、D)的功能和位置分离通过使用不同的波长范围并借助长通滤波器(C3)来实现。第三虚拟测量系统(P)可以为了确定线缆位置的目的而设置,并且用来权衡所测量的颜色测量的值和权衡可选的涡流传感器的测量值。用于确定直径、颜色和位置的光学测量系统(D、C、P)具有共用的光学盘形测量空间(DCPv),该测量空间优选布置在用于细长物体(W)的引导装置(4a、4b)的中心。
搜索关键词: 组合 传感器
【主权项】:
1.一种用于自动地非接触式检测比如线缆、电线或型材的细长物体(W)的装置,所述装置包括基于不同测量方法的至少两个光学测量系统(D、C),其特征在于,至少用于确定所述物体(W)的外径(Wdo)的第一光学测量系统(D)和用于确定所述物体(W)的颜色的至少一个第二光学测量系统(C)形成具有共用的、优选盘形的测量空间(DCPv),其中,所述第一测量系统(D)至少包括第一照射装置(DP1)和定位在所述测量空间(DCPv)的相反侧的第一传感器阵列(DP4),其中,透镜(DCP2)布置在所述第一照射装置(DP1)与所述测量空间(DCPv)之间,所述透镜被设计和定位为用于所述第一照射装置(DP1)的光线的准直透镜,并且其中,所述第二测量系统(C)包括至少一个第二照射装置(C1)、第二传感器阵列(C4)和长通滤波器(C3),其中,所述长通滤波器(C3)布置在所述第一照射装置(DP1)与所述透镜(DCP2)之间,反射所述第二测量系统(D)的波长光谱并传送所述第一测量系统(D)的光线,并且与所述透镜(DCP2)一起被设计和定位为使得所述长通滤波器(C3)被所述物体(W)的反射光线穿过两次并将所述物体(W)的图像投射到所述第二传感器阵列(C4)上。
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