[发明专利]光电装置和使用方法在审
申请号: | 201780025978.5 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN109417129A | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | P·特雷弗纳斯三世;K·德什潘德;T·埃韦斯;E·格里尔;J·朱;金奉勋;欧纳瑞;J·A·罗杰斯;M·西姆;张洁倩 | 申请(专利权)人: | 陶氏环球技术有限责任公司;罗门哈斯公司;伊利诺伊大学评议会;罗门哈斯电子材料有限责任公司 |
主分类号: | H01L51/42 | 分类号: | H01L51/42;G01B11/02;G06F3/041;H01L51/50;G06F3/042 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 徐舒 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供一种在光电装置(105)附近检测物体的存在的方法,其包括:(a)提供包括发光光电元件(405,3305,205)和光电流生成光电元件(404,3304,204)的光电装置8105);(b)在所述发光光电元件上施加有效正向偏压并在所述光电流生成光电元件上施加有效反向偏压;(c)使能够散射光或反射光或其组合的物体(21)与所述光电装置的表面上的光出现的点相距0.1mm到5mm的距离,从而使所述发光光电元件发射的光被反射或散射成使得所述光落在所述光电流生成光电元件上。 | ||
搜索关键词: | 光电元件 光电装置 光电流 发光 施加 反向偏压 正向偏压 反射光 散射光 散射 反射 相距 发射 检测 | ||
【主权项】:
1.一种在光电装置附近检测物体的存在的方法,其包括(a)提供包括发光光电元件和光电流生成光电元件的光电装置,其中所述装置被配置为使得所述发光光电元件发射的一些光离开所述光电装置,其中所述装置被配置为使得所述发光光电元件发射的离开所述光电装置并被外部物体散射或反射的光可以撞击所述光电流生成光电元件,(b)在所述发光光电元件上施加有效正向偏压并在所述光电流生成光电元件上施加有效反向偏压,(c)使能够散射光或反射光或其组合的物体与所述光电装置的表面上的光出现的点相距0.1mm到5mm的距离,从而使所述发光光电元件发射的光被反射或散射成使得所述光落在所述光电流生成光电元件上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
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