[发明专利]表面处理过的铜箔和覆铜箔层压板在审

专利信息
申请号: 201780044230.X 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN109601024A 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 托马斯·德瓦希夫;米歇尔·斯特里尔;扎伊尼亚·凯季 申请(专利权)人: 卢森堡电路箔片股份有限公司
主分类号: H05K3/38 分类号: H05K3/38;H05K1/09;C25D3/38;C25D5/16;C25D1/04;H05K3/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;钟海胜
地址: 卢森堡*** 国省代码: 卢森堡;LU
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摘要: 发明涉及一种通过使毛面粗糙化而具有低粗糙度性能的铜箔,其中,所述铜箔的厚度为5μm至70μm;并且该铜箔的经粗糙化的表面的由表面光度仪测量的平均粗糙度为0.5μm至2.0μm,并且该铜箔的经粗糙化的毛面的由表面光度仪测量的平均粗糙度Rz JIS低于该铜箔的光面的由表面光度仪测量的平均粗糙度Rz JIS。本发明中提供的铜箔具有优异的与树脂的粘附性以及电性能,同时通过表面粗糙化而具有低的粗糙度。
搜索关键词: 铜箔 表面光度仪 平均粗糙度 粗糙化 测量 覆铜箔层压板 表面粗糙化 低粗糙度 粗糙度 电性能 粘附性 树脂 毛面
【主权项】:
1.一种铜箔,所述铜箔通过使所述铜箔的毛面粗糙化而具有低的粗糙度性能,其中,所述铜箔的厚度为5μm至70μm;并且所述铜箔的经粗糙化的毛面的、由表面光度仪测量的平均粗糙度Rz JIS为0.5μm至2.0μm,其中,所述铜箔的经粗糙化的毛面的、由表面光度仪测量的平均粗糙度Rz JIS低于所述铜箔的光面的、由表面光度仪测量的平均粗糙度Rz JIS。
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