[发明专利]用于对象检测的基于显著性的波束成形在审
申请号: | 201780044480.3 | 申请日: | 2017-07-13 |
公开(公告)号: | CN109477893A | 公开(公告)日: | 2019-03-15 |
发明(设计)人: | S·马宗达;E·尾崎;R·A·卡利 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G01S13/42 | 分类号: | G01S13/42;G01S17/42;G01S7/481 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈炜;唐杰敏 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 扫描设备通常产生遍及目标区划具有均匀分辨率的图像。为了改进雷达/激光雷达扫描,一种高效扫描办法使得雷达设备/激光雷达设备能够基于感兴趣的区划和/或可调节的分辨率来自适应地执行目标区划的扫描。装置可以是用于扫描的扫描设备。该装置在目标区划上执行第一扫描以获得目标区划内多个位置处的多个第一扫描采样。该装置基于多个第一扫描采样的信号强度来生成目标区划的显著性图。该装置基于显著性图来确定目标区划内的显著区划。该装置在显著区划上执行至少一个第二扫描以获得显著区划中的至少一个第二扫描采样。 | ||
搜索关键词: | 扫描 采样 扫描设备 显著性图 激光雷达扫描 均匀分辨率 波束成形 对象检测 激光雷达 雷达设备 可调节 位置处 显著性 分辨率 雷达 图像 改进 | ||
【主权项】:
1.一种由扫描设备进行扫描的方法,包括:在目标区划上执行第一扫描以获得所述目标区划内多个位置处的多个第一扫描采样;基于所述多个第一扫描采样的信号强度来生成所述目标区划的显著性图;基于所述显著性图来确定所述目标区划内的显著区划;以及在所述显著区划上执行至少一个第二扫描以获得所述显著区划中的至少一个第二扫描采样。
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