[发明专利]一种用于检测钻石标记的方法和系统有效
| 申请号： | 201780065685.X | 申请日： | 2017-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN109863388B | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 杰弗里·哈罗德·马登松;马库斯·德勒 | 申请（专利权）人： | 陶朗分选有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/359 | 分类号： | G01N21/359;G01N21/85;B07C5/342;G01N33/38;G01N21/87 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 梁丽超 |
| 地址： | 德国米尔海*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于识别材料流中的部分析出的钻石的存在的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 钻石 标记 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于识别材料流中的部分析出的钻石的存在的方法，所述方法包括以下步骤：利用多波长光束照射材料，所述多波长光束包括至少一个单色SWIR激光束和至少一个IR散射/反散射激光束；在所述单色SWIR激光束被所述材料反射和/或散射之后，捕获所述至少一个单色SWIR激光束的一部分；基于所捕获的所述至少一个单色SWIR激光束的一部分生成SWIR信号；在所述至少一个IR散射/反散射激光束被所述材料散射并且可选地被所述材料反射之后，捕获所述至少一个IR散射/反散射激光束的第一部分；从所述至少一个IR散射/反散射激光束已经被所述材料散射之后的所述至少一个IR散射/反散射激光束的一部分中分离并此后捕获所述至少一个IR散射/反散射激光束已经被所述材料反射之后的所述至少一个IR散射/反散射激光束的反射部分；基于所捕获的所述至少一个IR散射/反散射激光束的所述第一部分生成IR散射信号；基于所捕获的所述至少一个IR散射/反散射激光束的所述反射部分生成IR反射信号；基于所述SWIR信号、所述IR反射信号、以及所述IR散射信号的组合中的钻石标记的存在，将所述材料分类成包括钻石。
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