[发明专利]用于测取试样的动态特性的折射计和方法在审
| 申请号： | 201780065959.5 | 申请日： | 2017-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN109863389A | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | S.施瓦兹冈萨尔维斯亨里克斯;M.奥斯特迈耶 | 申请（专利权）人： | 安东帕光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 侯宇 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及折射计(2)和用于借助所述折射计测量试样的特性的方法，其中，所述折射计包括具有测量表面(4.1)的测量体(4)、由测量体(4)的测量表面(4.1)限定的、用于容纳试样(8)的测量室(6)和用于通过测量体(4)来测量试样(8)的折光率的光学测量装置(10)。所述测量室(6)设计成能够通过压强和/或力调制对试样(8)进行机械加载，以便在调制期间动态地测量试样的折光率n。 | ||
| 搜索关键词： | 测量试样 测量体 折射 测量室 折光率 调制 测量 压强 光学测量装置 动态特性 机械加载 容纳 | ||
【主权项】：
1.折射计(2；102；202；302)，其包括：‑带有测量表面(4.1；104.1；204.1；304.1)的测量体(4；104；204；304)；‑由测量体(4；104；204；304)的测量表面(4.1；104.1；204.1；304.1)限定的、用于容纳试样(8；108；208；308)的测量室(6；106；206；306)；‑用于通过测量体(4；104；204；304)来测量试样(8；108；208；308)的折光率的光学测量装置(10；110；210；310)；其特征在于，测量室(6；106；206；306)设计成能够通过压强和/或力调制对试样(8；108；208；308)进行机械加载，以便在调制期间动态地测量试样的折光率n。
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