[发明专利]用于单分子定量的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201780066021.5 申请日: 2017-09-01
公开(公告)号: CN109863503B 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: H·B·琼斯;A·L·麦埃维 申请(专利权)人: 英维特公司
主分类号: G06V20/69 分类号: G06V20/69;G06V10/50;G06T7/11;G16B25/20;G16B40/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 通过具有一个或多个处理器和存储器的电子装置来进行用于对基板上的标记进行定量的方法。所述方法包括:获得与所述基板上的多维测量相对应的数字数据;识别所述数字数据的子部分的第一集合;以及针对所述数字数据的子部分的第一集合中的各子部分:使标记的数量增加;以及从所述各子部分中减除参考信号分布以获得减除后的子部分数据。所述方法还包括获得减除后的数字数据。所述减除后的数字数据包括针对所述各子部分的减除后的子部分数据。所述方法还包括:识别所述减除后的数字数据的一个或多个子部分的第二集合;以及针对所述减除后的数字数据的一个或多个子部分的第二集合中的各子部分,使标记的数量增加。
搜索关键词: 用于 分子 定量 系统 方法
【主权项】:
1.一种对基板上的标记进行定量的方法,所述方法包括:在具有一个或多个处理器和存储器的电子装置处:获得与所述基板上的多维测量相对应的数字数据;识别所述数字数据的子部分的第一集合,其中所述子部分的第一集合中的各子部分是整个数字数据的少于全部的子集并包括一个或多个标记的信号;针对所述数字数据的子部分的第一集合中的各子部分:使标记的数量增加;以及从所述各子部分中减除参考信号分布以获得减除后的子部分数据;获得减除后的数字数据,其中所述减除后的数字数据包括所述各子部分的减除后的子部分数据;识别所述减除后的数字数据的一个或多个子部分的第二集合,其中所述一个或多个子部分的第二集合中的各子部分是整个数字数据的少于全部的子集并包括一个或多个标记的信号;以及针对所述减除后的数字数据的一个或多个子部分的第二集合中的各子部分:使标记的数量增加。
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