[发明专利]载置台和电子器件测试装置有效

专利信息
申请号: 201780072416.6 申请日: 2017-09-29
公开(公告)号: CN109983350B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 河西繁;藤泽良德 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;H01L21/66;H01L21/683
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能够抑制成本升高的电子器件测试装置。探针台(10)包括用于载置载体(C)或晶片(W)的载置台(11),该载置台(11)包括用于载置载体(C)的载置台盖(27)、与该载置台盖(27)抵接的冷却单元(29)、和隔着载置台(27)和冷却单元(29)与载体(C)相对配置的LED照射单元(30),载置台盖(27)和冷却单元(29)由透光材料构成,可透光的冷却介质在冷却单元(29)的冷却介质流路(28)中流动,LED照射单元(30)包括面向载体(C)发光的多个LED(32),载体(C)由大致圆板形的玻璃基片(24)构成,多个电子器件(25)彼此隔着规定的间隔配置在载体(C)的表面。
搜索关键词: 载置台 电子器件 测试 装置
【主权项】:
1.一种载置台,其特征在于,包括:用于载置被检查体的冷却机构;和以隔着该冷却机构与所述被检查体相对的方式配置的光照射机构,所述冷却机构由透光材料构成,内部供可透光的冷却介质流动,所述光照射机构包括朝向所述被检查体发光的多个LED。
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