[发明专利]靠近和/或接触的检测方法、电容性传感器和检测模块

摘要

本发明的目的在于一种用于检测在机动车辆（V）的门把手（P）附近的用户的手（M）的靠近和/或接触的方法，所述把手（P）包括：·具有电容（Ce）的电极（40），以及·用于测量所述电容的变化的设备（60），·位于电极附近的低频天线（A），所述低频天线的发射产生对用于测量电容变化的设备的运转的干扰，本发明提出了根据在预定的时间间隔(Δt(k‑1))上计算的所述电容的先前的测量值（Ni）的变化的平均值(SΔt(k‑1))来计算用于检测靠近的新适应性阈值(Nth'Δtk)，所述测量值（Ni）的变化被由如下的因子(W(Ni))加权：所述因子取决于在每一测量值的变化与在先前的预定时间间隔(Δt(k‑2))上先前所计算的变化的平均值(SΔt(k‑2))之间的偏差，如果测量值的变化大于新适应性阈值，则验证对靠近的检测。

主权项

1.一种检测在机动车辆（V）的门把手（P）附近的用户的手（M）的靠近和/或接触的方法，所述把手（P）包括：·具有电容（Ce）的电极（40），以及·用于测量所述电容（Ce）的变化的设备（60），·位于电极（40）附近的低频天线（A），所述低频天线（A）的发射产生对用于测量电容变化的设备（60）的运转的干扰，所述方法的特征在于根据在预定时间间隔(Δt(k‑1))上计算的所述电容（Ce）的先前的测量值（Ni）的变化的平均值(S_Δt(k‑1))来计算用于检测靠近的新适应性阈值(Nth'_Δtk)，所述测量值（Ni）的变化被由如下的因子(W(Ni))加权：所述因子取决于在每一测量值（Ni）的变化与在先前的预定时间间隔(Δt(k‑2))上先前所计算的变化的平均值(S_Δt(k‑2))之间的偏差，如果所述电容（Ce）的测量值（Ni）的变化大于新适应性阈值(Nth'_Δtk)，则验证对靠近的检测。