[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 201780077706.X | 申请日： | 2017-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN110073200B | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 石田猛;山崎功夫;足立作一郎;今村伸 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01J3/10;G01N21/27;G01N21/59;G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 张敬强;金成哲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 自动分析装置具备：产生中心波长为340nm以下的光的光源；被上述光源的光激励而发光，且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm～800nm的光的荧光体；聚光透镜；至少一个狭缝；保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射的反应池；以及对透过上述反应池的光进行检测的检测器，上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置，上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种自动分析装置，其特征在于，具备：光源，其产生中心波长为340nm以下的光；荧光体，其被上述光源的光激励而发光，且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm～800nm的光；聚光透镜；至少一个狭缝；反应池，其保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射；以及检测器，其对透过上述反应池的光进行检测，上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置，上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下。
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